Analyse élémentaire SEM-EDX

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Analyse élémentaire SEM-EDX

Méthode semi-quantitative rapide recommandée pour l’analyse microscopique et les dépôts issus de diverses applications.


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189,00€

Description

SEM-EDX (Microscopie électronique à balayage avec spectroscopie X-ray à dispersion d'énergie) est une technique puissante permettant d'identifier la composition élémentaire des matériaux.

Il fonctionne en orientant un faisceau d’électrons vers une échantillon, ce qui provoque l’émission de rayons X caractéristiques par les atomes. Ces rayons X sont ensuite analysés pour déterminer quels éléments sont présents et dans quelles concentrations. Cette méthode est non destructrice et convient à l’analyse qualitative et semi-quantitative.

L'analyse est ensuite accompagnée d'une interprétation de professionnels.

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