Descrizione
SEM-EDX (La microscopia elettronica a scansione con spettroscopia a raggi X dispersivi) è una tecnica potente per identificare la composizione elementare dei materiali.
Funziona dirigendo un fascio di elettroni su un campione, il quale fa sì che gli atomi emettano raggi X caratteristici. Questi raggi X vengono poi analizzati per determinare quali elementi sono presenti e in quali concentrazioni. Il metodo è non distruttivo e adatto sia all’analisi qualitativa che alla semiquantitativa.
L'analisi viene poi accompagnata da un'interpretazione da parte di professionisti.





