Descripción
SEM-EDX (Microscopía electrónica de barrido con espectroscopía de rayos X de dispersión de energía) es una técnica potente para identificar la composición elemental de los materiales.
Funciona al dirigir un haz de electrones hacia una muestra, lo que provoca que los átomos emitan rayos X característicos. Estos rayos X se analizan para determinar qué elementos están presentes y en qué concentraciones. Este método es no destructivo y adecuado tanto para análisis cualitativos como semi-cuantitativos.
Luego, el análisis viene acompañado de una interpretación realizada por profesionales.





